单选题 0°探头分辨力的测定应使用（ ）。
A、CSK-1A试块85、91台阶底面
B、CSK-1A试块φ40、44圆弧面
C、WGT-3试块
D、WGT-2试块
单选题 串列法探伤主要适用于检查（ ）平面缺陷。
A、垂直于探测面
B、倾斜于探测面
C、平行于探测面
D、纵向发展的
单选题 通用探伤仪的水平线性误差测定应（ ）。
A、在CSK-1A试块探测厚度25mm的底面
B、在CSK-1A试块探测厚度85mm的底面
C、在CSK-1A试块探测厚度91mm的底面
D、在CSK-1A试块探测半径50mm的圆弧面
单选题 超声波探头中压电晶片厚度最大的是（ ）。
A、1MHz探头
B、5MHz探头
C、15MHz探头
D、25MHz探头
单选题 单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（ ）。
单选题 用试块对比法求得的缺陷大小（ ）。
A、称为当量
B、与实际大小相等
C、是缺陷的最大长度
D、是缺陷的最大宽度
单选题 直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行会产生（ ）。
A、底面回波降低或消失
B、底面回波正常
C、底面回波变宽
D、底面回波变窄
单选题 与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是（ ）。
A、单斜探头法
B、单直探头法
C、双斜探头前后串列法
D、分割式双直探头法
2022-09-05
共201道
