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单探头横波斜射声束检测焊缝时,时基线的调整方法可以是:(声程调节法)、(水平调节法)和(深度调节法)。 判断题(在每题前面括号内打“x”号表示“错误”,打“小”表示“正确”) (✓)1. 超声检测既可以检测工件表面缺陷,也可以检测工件内部缺陷。 (✓)2. 位移随时间的变化符合余弦规律的振动称为谐振动。 (×)3. 超声波在理想介质中的传播,其本质是物质和能量同时进行传播。 (×)4. 只要有初始振动的波源,机械振动就可以传播。 (×)5. 从公式C=λ-f可以看出,声速C与频率f成正比,因此高频时的超声波传播速度比低频时大。 (✓)6. 质点完成五次全振动所需要的时间,可以使超声波在介质中传播五个波长的距离。 (✓)7. 由于λ=C/f,声速一定时,频率越高,波长越短。 (×)8. 纵波是指质点的振动方向与波的传播方向垂直的波型。 (×)9. 超声横波能在固体、液体和气体介质中进行传播。 (×)10. 在空气中不仅能传播纵波,也能传播横波。 (×)11. 横波不能在液体中传播,因此横波探伤时,不能使用液体耦合剂。 (✓)12. 球面波振幅与距离成反比。 (×)13. 球面波振幅与距离的平方根成反比。 (×)14. 柱面波振幅与距离成反比。 ( ×)15. 平面波振幅与距离成反比。 (×)16. 在超声检测中最常用的超声波是连续波。 (✓)17. 对脉冲波,脉冲越短,则频带越宽。 (✓)18. 相同条件下,同一固体介质中,纵波、横波、表面波的传播速度均为常数。 (×)19. 同一固体介质中,声速与波型无关。 (✓)20. 声速是声能量传播的速度。 (×)21. 声速是介质中质点振动的速度。 (×)22. 声速是介质中质点按波的方向移动的速度。 (✓)23. 垂直线性良好时,超声检测仪荧光屏上脉冲的高度与声压成正比。 (✓)24. 声强与声压的平方成正比。 (×)25. 声压与声强的平方成正比。 (×)26. 在同一固体材料中,传播纵波和横波时的声阻抗相同。 (✓)27. 有限尺寸平面状波源发出的超声波,在声源附近声压出现极大值和极小值是由于干涉现象造成的。 (✓)28. 波阵面的位置和形状随时间的变化,可用惠更斯原理进行解释。 (×)29. 散射和衍射是超声波单独具有的特性。 (×)30. 频率相同时,同种介质中障碍物尺寸越大,衍射越强。 (×)31. 超声波在介质中传播碰到障碍物时,散射和衍射的强弱,与声速有关。 (✓)32. 波长与障碍物尺寸的相对大小,决定了散射和衍射的强弱。 (✓)33. 超声波垂直入射时,界面两侧介质声阻抗相差愈小,声压往复透过率愈高。 (×)34. 超声波垂直入射到两种介质的界面上,可能会发生波型转换。 (×)35. 超声波垂直入射到异质界面上,声压反射率与介质的声阻抗和声速有关。 (✓)36. 当钢中的气隙(如裂纹)厚度一定时,超声波频率增加,反射波高也随着增加。 (✓)37. 灵敏度试块表面和反射体位置是否清洁,对探伤结果会产生影响。 (✓)38. 只有当第一介质为固体介质时,才会有第三临界角。 (×)39. 超声波倾斜入射到异质界面时,同种波型的折射角总大于入射角。 (×)40. 超声波入射到曲界面时,反射波是聚焦还是发散,与界面两侧介质的声速有关。 (×)41. 为了在试件中得到纯横波,斜探头透声斜楔材料的纵波速度应大于被检试件中的纵波速度。 (×)42. 倾斜入射的超声纵波在异质界面上发生反射时,反射波中必定会分离出反射纵波与反射横波。 (×)43. 球面波声压与距离成正比。 (×)44. 球面波声压与距离的平方根成反比。 (×)45. 柱面波声压与距离成反比。 (✓)46. 平面波声压是恒量。 (×)47. 超声波平面波不存在材质衰减。 (×)48. 超声波在传播中,声阻抗越大,衰减越严重。 (×)49. 选用越高的频率探测,有利于发现越大的缺陷,而且声衰减越小。 (× )50. 频率相同时,声源直径越大,近场长度越小。 ( ✓)51. 相同尺寸的声源,频率越高,近场长度越大。 (✓)52. 频率相同时,声源直径越大,指向角越小。 (×)53. 相同尺寸的声源,频率越高,指向角越大。 (×)54. 频率和晶片尺寸相同时,横波声束指向性不如纵波好。 (✓)55. 频率和晶片尺寸相同时,横波声束指向性比纵波好。 (×)56. 同一探头在钢中的近场长度N要比在水中的近场长。 (×)57. 超声波声场的近场长度愈短,声束指向性愈好。 (✓)58. 斜角探伤横波声场中假想声源的面积小于实际声源面积。 (✓)59. 声源辐射的超声波的能量主要集中在主声束内。 (×)60. 由于在远场区超声波声束会扩散,所以探伤应尽可能在近场区进行。 (✓)61. 实用AVG曲线只适用于特定材料和特定尺寸、特定频率的探头。 (×)62. 模拟型A型脉冲反射式超声检测仪,读取回波位置时,可以读前沿,也可以读波峰处对应的水平刻度。 (✓)63. 数字式仪器信号的同步控制,是由微处理器通过程序控制的。 (×)64. 数字式仪器模-数转换的采样频率,不会引起信号的失真。 (×)65. 数字仪器的显示刷新频率与脉冲重复频率不一致时,也能保证所有信号得到显示。(×)66. 仪器的水平线性误差会影响对缺陷的定量。 (✓)67. 仪器的水平线性误差会影响对缺陷的定位精度。 (×)68. 仪器的垂直线性误差会影响对缺陷的定位精度。 (×)69. 仪器的动态范围越小,则垂直线性越好。 ( ×)70. 超声波探伤仪的脉冲重复频率越高,探伤频率也越高。 (×)71. 斜探头的K值,在探测任何材料时,其值保持不变。 (×)72. 探头的主声束偏斜角,对缺陷的定位和定量均无影响。 (✓)73. 斜探头的入射点,是缺陷定位的基准点。 (×)74. 探头制造完成后,其K值和入射点保持不变。 (✓)75. 实际探伤中,为了对缺陷准确定位和定量,应使用缺陷的最高回波。 (×)76. 压电效应是产生声电转换的唯一可行方法。 (×)77. 盲区、分辨力、始波宽度等参数,都是相互独立的,没有关联。 (×)78. 一台垂直线性良好的超声波检测仪,其回波高度与探头接收到的声压成反比。 (×)79. 超声波探头所选用压电晶片的频率与晶片厚度有密切关系,对同种压电材料,晶片越薄,频率越低。 (×)80. 常用的以有机玻璃为斜楔的斜探头,当温度升高时,其折射角将变小。 ( ✓)81. 水平线性、垂直线性、动态范围属于超声波检测仪的性能指标。 (×)82. 灵敏度余量、盲区、分辨力是只与探头有关的性能指标。 (×)83. 超声波检测仪在单位时间内产生的脉冲数量叫做超声波频率。 (×)84. 为提高分辩力,在满足探伤灵敏度要求情况下,仪器的发射强度应尽量调得高一些。 ( ×)85. 一般的超声波检测仪在有抑制作用的情况下不会影响其垂直线性。 (✓)86. 在超声波检测中,窄脉冲的纵向分辨力高,这是因为它的脉冲宽度小。 (×)87. 为了减小材质和耦合补偿,选用试块时,最好使用标准试块。 (×)88. 单探头法探测最易发现与声束轴线平行的缺陷。 (×)89. 从各个方向都能探测到的缺陷是平面状缺陷。 (✓)90. 从各个方向都能探测到的缺陷是点状或体积型缺陷。 (×)91. 直射法探伤时,试件的探测面应选在与缺陷最大表面相垂直的面上。 (×)92. 用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时,探头位置越靠近侧壁,检测效果越好。 (✓)93. 探头发射的超声脉冲频率都不是单一的,而是有一定带宽的。 (✓)94. 调整时基线时,应使显示范围包含所需检测的深度范围。 (×)95. 调整时基线时,应使始脉冲前沿与屏幕零刻度对齐。 (✓)96. 对于厚度小于3N的试件,直射声束纵波检测时,宜采用试块比较法调整探伤灵敏度。 (×)97. 使用试块比较法调整探伤灵敏度时,虽然试块与受检件的表面状态和材质衰减可能存在差异,但也无需传输修正。 (×)98. 只要试件具有相互平行的大平表面,就可以用底波计算法调整探伤灵敏度。 (×)99. 当缺陷尺寸大于声束截面时,可以用当量法评定缺陷的大小。 (✓)100. 当缺陷尺寸小于声束截面时,可以用当量法评定缺陷的大小。 (✓)101. 轮廓回波和迟到回波,均为非缺陷回波。 (×)102. 非缺陷回波不会影响对实际缺陷的评价。 (×)103. 绝对灵敏度测长法是以缺陷最大回波为基准的测长方法。 (×)104. 斜射声束横波检测时,可不测定探头的入射点和折射角。 (×)105. 材质的不均匀性是影响检测结果的可控因素。 (✓)106. 缺陷自身特性是影响检测结果的不可控因素。 (×)107. 同样型号的探头,标称参数相同,说明其实际性能是完全一致的。 (✓)108. 试件材质的非均匀性和各向异性,会影响缺陷的定位和定量。 (✓)109. 在对铸钢件进行超声波检测时,回波低的未必是小缺陷。 (✓)110. 利用距离-波幅曲线,可以对缺陷进行当量评定。 (×)111. 用横波斜探头探测表面为平面的试件,在使用不同种类的耦合剂时,试件中折射角将发生变化。 第三部分选择题 (将认为正确的序号字母填入题前面的括号内) (  )1.铁磁性材料光滑表面上的开口缺陷,可以使用那种方法进行检测